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應力無損測試-X射線衍射技術的原理和應用介紹
新聞出處:　　 2022-11-10 10:14:29
目前根據(jù)大數(shù)據(jù)分析來看，X射線衍射技術在應力無損測試中應用范圍最為廣泛。也是最普遍高效的一種應力無損測試方法，X射線衍射技術是指通過對材料進行X射線衍射，也被稱為X-ray diffraction，XRD，人們通過對其衍射圖譜的分析，來獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子（或分子）的結構以及形態(tài)等多方面信息的一種研究手段。他的工作原理就是把單色的X射線投射到晶體樣品（物體材料）上，如果其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，則滿足衍射條件，并且在

衍射角2θ處產(chǎn)生衍射，樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的

角度繞樣品旋轉，接收到粉晶中不同網(wǎng)面、不同取向的全部衍射線，獲得相應的衍射圖譜。

X射線衍射技術應用：

（1）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各

結晶相的比例。

（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開

發(fā)應用提供性能驗證指標。

（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可

以快捷測定微觀應力。

（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用

X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。