在當(dāng)下
應(yīng)力無損測試的多種方法中，X射線衍射法是最普遍、最廣泛的一種測試方法，當(dāng)然在這種方法中必需要用到的設(shè)備儀器——X射線衍射儀，X射線衍射儀則是對(duì)物質(zhì)（材料）的組成以及它的原子級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究和鑒定的一種基本手段。被廣泛的應(yīng)用于冶金業(yè)、石油、化工行業(yè)、科研行業(yè)、航空航天領(lǐng)域、教學(xué)科普、生產(chǎn)行業(yè)等多方面。
以下我們對(duì)不同領(lǐng)域中X射線的具體應(yīng)用進(jìn)行簡單的描述：
1、材料科學(xué)
對(duì)于材料的研究和創(chuàng)新，因?yàn)槠渖婕把芯扛鞣N物質(zhì)的特性以及使用場所，例如金屬材料、陶瓷材料、塑料材料等，應(yīng)用范圍也是非常廣泛的，可以從空間科學(xué)、國防科技覆蓋到消費(fèi)類產(chǎn)品。X射線衍射是一種研究先進(jìn)材料的重要技術(shù)，其功能有：相的識(shí)別和定量、相的結(jié)晶度判定、晶體結(jié)構(gòu)、晶體取向和織構(gòu)、極圖等多種功能。然而這些功能的非環(huán)境條件影響也和XRD技術(shù)一起研究。作用于各種樣品類型，從粉狀到各種形狀、大小的固體材料以及液體材料和半導(dǎo)體晶片等。
2、地質(zhì)、礦產(chǎn)和采集礦資源
目前在針對(duì)研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過程中，地質(zhì)學(xué)家們巖石、礦物樣品的組成進(jìn)行一系列的分析研究。而X射線衍射儀分析技術(shù)可用于例如：小點(diǎn)激發(fā)、分布分析和無標(biāo)定量分析等方面，它在應(yīng)用過程中逐漸成為了地質(zhì)研究以及礦物學(xué)研究領(lǐng)域的主要儀器和技術(shù)。X射線衍射儀（XRD）也可以定量測量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被當(dāng)世學(xué)家認(rèn)為是晶體相定量分析的方法。
3、金屬冶煉
金屬行業(yè)（鑄造廠，冶煉廠、鋼廠等）的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進(jìn)料出料的質(zhì)量。合金的化學(xué)含量，殘余應(yīng)力是與結(jié)構(gòu)失效相關(guān)的重要特征。X射線衍射儀是無損精確測量殘余應(yīng)力的方法。X射線衍射具有較高的空間分辨率和測量硬化材料的能力提供了非接觸式測量。
4、涂層
在現(xiàn)代的生活環(huán)境下每個(gè)環(huán)節(jié)都得益于涂層或薄膜技術(shù)。無論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層，X射線是研發(fā)，產(chǎn)品過程控制和質(zhì)量保證*的分析技術(shù)。作為納米技術(shù)研究的重要方法，X射線衍射（XRD）和附屬技術(shù)被用于確定薄膜分子結(jié)構(gòu)的性質(zhì)。
